Uzatvorené TED · Zdroj · Jazyk: Nederlands

Holandsko · Elektrické stroje, prístroje a spotrebný materiál

Oficiálny názov · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Holandsko

Zobraziť oznámenia pod týmto názvom

Oficiálne zhrnutie · Nederlands

Čo je predmetom obstarávania?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Lehota 7. 9. 2026 12:00 UTC+02:00
Predpokladaná hodnota1 300 000 EUR
Zverejnené28. 7. 2026
Otvoriť oficiálne oznámenie ↗

História oznámení

Časová os verejného obstarávania

Sledujte hlavné etapy a aktualizácie súvisiace s týmto postupom verejného obstarávania.

Zatiaľ sa nenašlo žiadne ďalšie súvisiace oznámenie.

  1. Oznámenie o verejnom obstarávaní Prezerané oznámenie

    · TED 519634-2026

    Otvoriť oficiálne oznámenie ↗

Údaje sú upravené na ľahšie čítanie. Oficiálne oznámenie a súťažné podklady majú vždy prednosť.

Zdroj a spoľahlivosť

TED · 519634-2026. Overené 24. 8. 2026, 4:05.

Údaje sú upravené na ľahšie čítanie. Oficiálne oznámenie a súťažné podklady majú vždy prednosť.

Nahlásiť chybu e-mailom