Nizozemska · Električni strojevi, uređaji i potrošni materijal
Službeni naslov · Nederlands
Informativni automatski prijevod radi lakšeg čitanja. Mjerodavan je službeni naslov u nastavku.
Službeni naslov · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nizozemska
Pogledajte objave pod ovim nazivomSlužbeni sažetak · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Strojni prijevod za lakše razumijevanje. Službeni sažetak ostaje mjerodavan.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Povijest obavijesti
Pratite glavne faze i izmjene povezane s ovim postupkom nabave.
Još nije pronađena nijedna druga povezana obavijest.
Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.
TED · 519634-2026. Provjereno 24. kol 2026. 04:05.
Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.
