Cerrado TED · Fuente · Idioma: Nederlands

Países Bajos · Maquinaria, aparatos y consumibles eléctricos

Título oficial · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Países Bajos

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Resumen oficial · Nederlands

¿Qué se contrata?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Plazo 7 sept. 2026 12:00 UTC+02:00
Valor estimado1.300.000 EUR
Publicado28 jul. 2026
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Historial del anuncio

Cronología del procedimiento de contratación

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    · TED 519634-2026

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Fuente y fiabilidad

TED · 519634-2026. Verificado el 24 ago. 2026 4:05.

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