Geschlossen TED · Quelle · Sprache: Nederlands

Niederlande · Elektrische Maschinen, Geräte und Verbrauchsmaterial

Amtlicher Titel · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Niederlande

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Amtliche Zusammenfassung · Nederlands

Was wird beschafft?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Frist 07.09.2026 12:00 UTC+02:00
Geschätzter Wert1.300.000 EUR
Veröffentlicht28.07.2026
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Bekanntmachungsverlauf

Zeitlicher Ablauf des Vergabeverfahrens

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  1. Auftragsbekanntmachung Angezeigte Bekanntmachung

    · TED 519634-2026

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Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.

Quelle und Verlässlichkeit

TED · 519634-2026. Geprüft am 24.08.2026, 04:05.

Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.

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