Затворена TED · Източник · Език: Nederlands

Нидерландия · Електрически машини, апарати и консумативи

Официално заглавие · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Нидерландия

Вижте обявленията под това име

Официално резюме · Nederlands

Какво се възлага?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Краен срок 7.09.2026 г. 12:00 UTC+02:00
Прогнозна стойност1.300.000 EUR
Публикувано28.07.2026 г.
Отворете официалното обявление ↗

История на обявлението

Хронология на процедурата за възлагане

Проследете основните етапи и актуализации, свързани с тази процедура за възлагане.

Все още не е открито друго свързано обявление.

  1. Обявление за състезателна процедура Разглеждано обявление

    · TED 519634-2026

    Отворете официалното обявление ↗

Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.

Източник и надеждност

TED · 519634-2026. Проверено на 24.08.2026 г., 4:05 ч..

Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.

Съобщете за грешка по имейл