Chiuso TED · Fonte · Lingua: Nederlands

Paesi Bassi · Macchine, apparecchiature e materiali elettrici

Titolo ufficiale · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Paesi Bassi

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Sintesi ufficiale · Nederlands

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The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Scadenza 7 set 2026 12:00 UTC+02:00
Valore stimato1.300.000 EUR
Pubblicato28 lug 2026
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Fonte e affidabilità

TED · 519634-2026. Verificato il 24 ago 2026, 04:05.

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