Închis TED · Sursă · Limbă: Nederlands

Țările de Jos · Mașini, aparate și consumabile electrice

Titlu oficial · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Țările de Jos

Vezi anunțurile sub acest nume

Rezumat oficial · Nederlands

Ce se achiziționează?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Termen-limită 7 sept. 2026 12:00 UTC+02:00
Valoare estimată1.300.000 EUR
Publicat28 iul. 2026
Deschideți anunțul oficial ↗

Istoricul anunțului

Cronologia procedurii de achiziție

Urmăriți principalele etape și actualizări legate de această procedură de achiziție.

Nu a fost identificat încă niciun alt anunț asociat.

  1. Anunț de participare Anunțul consultat

    · TED 519634-2026

    Deschideți anunțul oficial ↗

Datele sunt restructurate pentru o lectură mai ușoară. Anunțul oficial și documentele achiziției prevalează întotdeauna.

Sursă și fiabilitate

TED · 519634-2026. Verificat la 24 aug. 2026, 04:05.

Datele sunt restructurate pentru o lectură mai ușoară. Anunțul oficial și documentele achiziției prevalează întotdeauna.

Semnalați o eroare prin e-mail