Encerrado TED · Fonte · Idioma: Nederlands

Países Baixos · Máquinas, aparelhos e consumíveis elétricos

Título oficial · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Países Baixos

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Resumo oficial · Nederlands

O que está a ser adquirido?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Prazo 7 de set de 2026 12:00 UTC+02:00
Valor estimado1 300 000 EUR
Publicado28 de jul de 2026
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Cronologia do procedimento de contratação pública

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    · TED 519634-2026

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Fonte e fiabilidade

TED · 519634-2026. Verificado em 24 de ago de 2026 04:05.

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