Nizozemska · Električni stroji, naprave in potrošni material
Uradni naslov · Nederlands
Okvirni samodejni prevod za lažje branje. Velja spodaj navedeni uradni naslov.
Uradni naslov · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Podatki so preurejeni za lažje branje. Uradno obvestilo in razpisna dokumentacija vedno veljata.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nizozemska
Oglejte si objave pod tem imenomUradni povzetek · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Informativni strojni prevod. Uradni povzetek ostaja merodajen.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Zgodovina obvestil
Spremljajte glavne faze in posodobitve, povezane s tem postopkom javnega naročanja.
Za zdaj ni bilo najdeno nobeno drugo povezano obvestilo.
Podatki so preurejeni za lažje branje. Uradno obvestilo in razpisna dokumentacija vedno veljata.
TED · 519634-2026. Preverjeno 24. avg. 2026 04:05.
Podatki so preurejeni za lažje branje. Uradno obvestilo in razpisna dokumentacija vedno veljata.
