Dúnta TED · Foinse · Teanga: Nederlands

an Ísiltír · Innealra, gaireas agus tomhaltáin leictreacha

Teideal oifigiúil · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · an Ísiltír

Féach ar fhógraí faoin ainm seo

Achoimre oifigiúil · Nederlands

Cad atá á sholáthar?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Spriocdháta 7 MFómh 2026 12:00 UTC+02:00
Luach measta1,300,000 EUR
Foilsithe28 Iúil 2026
Oscail an fógra oifigiúil ↗

Stair na bhfógraí

Amlíne an tsoláthair

Lean na príomhchéimeanna agus na nuashonruithe a bhaineann leis an nós imeachta soláthair seo.

Níor sainaithníodh aon fhógra gaolmhar eile go fóill.

  1. Fógra comórtais Fógra atá á léamh

    · TED 519634-2026

    Oscail an fógra oifigiúil ↗

Tá na sonraí athstruchtúrtha chun iad a léamh níos éasca. Is iad an fógra oifigiúil agus na doiciméid soláthair a bhíonn i réim i gcónaí.

Foinse agus iontaofacht

TED · 519634-2026. Seiceáilte ar 24 Lún 2026 04:05.

Tá na sonraí athstruchtúrtha chun iad a léamh níos éasca. Is iad an fógra oifigiúil agus na doiciméid soláthair a bhíonn i réim i gcónaí.

Tuairiscigh earráid trí ríomhphost