Achoimre oifigiúil · Nederlands
Cad atá á sholáthar?
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Foinse agus iontaofacht
Foinse: fógra oifigiúil TED 519634-2026, seiceáilte go deireanach an 21 Lún 2026 19:06. Is í an bhunfhoilseachán an fhoinse údarásach.
Tá na sonraí athstruchtúrtha chun iad a léamh níos éasca. Is iad an fógra oifigiúil agus na doiciméid soláthair a bhíonn i réim i gcónaí.