Nīderlande · Elektriskās mašīnas, aparāti un patēriņa materiāli
Oficiālais nosaukums · Nederlands
Informatīvs automātisks tulkojums ērtākai lasīšanai. Noteicošais ir zemāk norādītais oficiālais nosaukums.
Oficiālais nosaukums · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nīderlande
Skatīt paziņojumus ar šo nosaukumuOficiālais kopsavilkums · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Informatīvs mašīntulkojums. Oficiālais kopsavilkums joprojām ir noteicošais.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Paziņojuma vēsture
Sekojiet galvenajiem posmiem un atjauninājumiem, kas saistīti ar šo iepirkuma procedūru.
Cits saistīts paziņojums vēl nav identificēts.
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.
TED · 519634-2026. Pārbaudīts 2026. gada 24. aug. 04:05.
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.
