Alankomaat · Sähkökoneet, laitteet ja kulutustarvikkeet
Virallinen otsikko · Nederlands
Suuntaa-antava automaattinen käännös lukemisen helpottamiseksi. Alla oleva virallinen otsikko on ensisijainen.
Virallinen otsikko · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Alankomaat
Näytä tällä nimellä julkaistut ilmoituksetVirallinen yhteenveto · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Suuntaa antava konekäännös. Virallinen yhteenveto on edelleen ensisijainen.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Ilmoitushistoria
Seuraa tähän hankintamenettelyyn liittyviä päävaiheita ja päivityksiä.
Muita tähän liittyviä ilmoituksia ei ole vielä tunnistettu.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
TED · 519634-2026. Tarkistettu 24.8.2026 klo 4.05.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
