Nyderlandai · Elektros mašinos, aparatai ir eksploatacinės medžiagos
Oficialus pavadinimas · Nederlands
Orientacinis automatinis vertimas, kad būtų lengviau skaityti. Pirmenybė teikiama toliau pateiktam oficialiam pavadinimui.
Oficialus pavadinimas · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Duomenys pertvarkyti, kad būtų lengviau skaityti. Oficialus skelbimas ir pirkimo dokumentai visada turi pirmenybę.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nyderlandai
Peržiūrėti skelbimus šiuo pavadinimuOficiali santrauka · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Informacinis mašininis vertimas. Oficialiai santraukai ir toliau teikiama pirmenybė.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Skelbimo istorija
Sekite pagrindinius šios pirkimo procedūros etapus ir atnaujinimus.
Kol kas nenustatyta jokių kitų susijusių skelbimų.
Duomenys pertvarkyti, kad būtų lengviau skaityti. Oficialus skelbimas ir pirkimo dokumentai visada turi pirmenybę.
TED · 519634-2026. Patikrinta 2026-08-24 04:05.
Duomenys pertvarkyti, kad būtų lengviau skaityti. Oficialus skelbimas ir pirkimo dokumentai visada turi pirmenybę.
