Gesloten TED · Bron

Nederland · Elektrische machines, toestellen en verbruiksartikelen

Officiële titel · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nederland

Bekijk aankondigingen onder deze naam

Officiële samenvatting

Wat wordt ingekocht?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Termijn 7 sep. 2026 12:00 UTC+02:00
Geraamde waarde1.300.000 EUR
Gepubliceerd28 jul. 2026
Officiële aankondiging openen ↗

Historie van de aankondiging

Tijdlijn van de aanbestedingsprocedure

Volg de belangrijkste fasen en updates van deze aanbestedingsprocedure.

Er is nog geen andere gerelateerde aankondiging gevonden.

  1. Aankondiging van opdracht Bekeken aankondiging

    · TED 519634-2026

    Officiële aankondiging openen ↗

De gegevens zijn voor een betere leesbaarheid geordend. De officiële aankondiging en aanbestedingsstukken zijn altijd doorslaggevend.

Bron en betrouwbaarheid

TED · 519634-2026. Gecontroleerd op 24 aug. 2026 04:05.

De gegevens zijn voor een betere leesbaarheid geordend. De officiële aankondiging en aanbestedingsstukken zijn altijd doorslaggevend.

Een fout melden per e-mail