Zamknięte TED · Źródło · Język: Nederlands

Holandia · Maszyny, aparatura i materiały elektryczne

Oficjalny tytuł · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Holandia

Zobacz ogłoszenia pod tą nazwą

Oficjalne podsumowanie · Nederlands

Co jest przedmiotem zamówienia?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Termin 7 wrz 2026 12:00 UTC+02:00
Szacunkowa wartość1 300 000 EUR
Opublikowano28 lip 2026
Otwórz oficjalne ogłoszenie ↗

Historia ogłoszeń

Oś czasu postępowania o udzielenie zamówienia

Śledź główne etapy i aktualizacje powiązane z tym postępowaniem o udzielenie zamówienia.

Nie znaleziono jeszcze żadnego innego powiązanego ogłoszenia.

  1. Ogłoszenie o procedurze konkurencyjnej Przeglądane ogłoszenie

    · TED 519634-2026

    Otwórz oficjalne ogłoszenie ↗

Dane uporządkowano dla łatwiejszego czytania. Zawsze rozstrzygają oficjalne ogłoszenie i dokumenty zamówienia.

Źródło i wiarygodność

TED · 519634-2026. Sprawdzono 24 sie 2026, 04:05.

Dane uporządkowano dla łatwiejszego czytania. Zawsze rozstrzygają oficjalne ogłoszenie i dokumenty zamówienia.

Zgłoś błąd e-mailem