Holland · Elektrimasinad, -seadmed ja kulumaterjalid
Ametlik pealkiri · Nederlands
Lugemist hõlbustav automaattõlge. Allpool olev ametlik pealkiri on määrav.
Ametlik pealkiri · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Holland
Vaata selle nimega teateidAmetlik kokkuvõte · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Abistav masintõlge. Ametlik kokkuvõte jääb määravaks.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Teate ajalugu
Jälgige selle hankemenetlusega seotud põhietappe ja uuendusi.
Ühtegi muud seotud teadet ei ole veel tuvastatud.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
TED · 519634-2026. Kontrollitud 24. aug 2026 04:05.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
