Stängd TED · Källa · Språk: Nederlands

Nederländerna · Elektriska maskiner, apparater och förbrukningsvaror

Officiell titel · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nederländerna

Visa annonser under detta namn

Officiell sammanfattning · Nederlands

Vad upphandlas?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Tidsfrist 7 sep. 2026 12:00 UTC+02:00
Uppskattat värde1 300 000 EUR
Publicerat28 juli 2026
Öppna officiellt meddelande ↗

Meddelandehistorik

Tidslinje för upphandlingsförfarandet

Följ de viktigaste stegen och uppdateringarna som är kopplade till det här upphandlingsförfarandet.

Inget annat relaterat meddelande har ännu identifierats.

  1. Upphandlingsannons Visad annons

    · TED 519634-2026

    Öppna officiellt meddelande ↗

Uppgifterna har strukturerats om för att bli lättare att läsa. Det officiella meddelandet och upphandlingsdokumenten gäller alltid.

Källa och tillförlitlighet

TED · 519634-2026. Kontrollerad 24 aug. 2026 04:05.

Uppgifterna har strukturerats om för att bli lättare att läsa. Det officiella meddelandet och upphandlingsdokumenten gäller alltid.

Rapportera ett fel via e-post