Holland · Elektriske maskiner, apparater og forbrugsvarer
Officiel titel · Nederlands
Vejledende automatisk oversættelse for lettere læsning. Den officielle titel nedenfor er gældende.
Officiel titel · Nederlands
Metrology SEM+FIB system
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Holland
Se udbud under dette navnOfficielt resumé · Nederlands
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Vejledende maskinoversættelse. Det officielle resumé er fortsat gældende.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Meddelelseshistorik
Følg de vigtigste faser og opdateringer i dette udbud.
Der er endnu ikke fundet en anden relateret meddelelse.
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.
TED · 519634-2026. Kontrolleret 24. aug. 2026 04.05.
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.
