Uzavřeno TED · Zdroj · Jazyk: Nederlands

Nizozemsko · Elektrické stroje, přístroje a spotřební materiál

Oficiální název · Nederlands

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Nizozemsko

Zobrazit oznámení pod tímto názvem

Oficiální shrnutí · Nederlands

Co je předmětem zakázky?

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Lhůta 7. 9. 2026 12:00 UTC+02:00
Předpokládaná hodnota1 300 000 EUR
Zveřejněno28. 7. 2026
Otevřít oficiální oznámení ↗

Historie oznámení

Časová osa zadávacího řízení

Sledujte hlavní fáze a aktualizace spojené s tímto zadávacím řízením.

Dosud nebylo nalezeno žádné další související oznámení.

  1. Oznámení o zahájení zadávacího řízení Prohlížené oznámení

    · TED 519634-2026

    Otevřít oficiální oznámení ↗

Data jsou upravena pro snazší čtení. Oficiální oznámení a zadávací dokumentace mají vždy přednost.

Zdroj a spolehlivost

TED · 519634-2026. Ověřeno 24. 8. 2026 4:05.

Data jsou upravena pro snazší čtení. Oficiální oznámení a zadávací dokumentace mají vždy přednost.

Nahlásit chybu e-mailem