Oficiálne zhrnutie · English
Čo je predmetom obstarávania?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Zdroj a spoľahlivosť
Zdroj: oficiálne oznámenie TED 502702-2026, naposledy overené 21. 8. 2026, 15:05. Rozhodujúce zostáva pôvodné zverejnenie.
Údaje sú upravené na ľahšie čítanie. Oficiálne oznámenie a súťažné podklady majú vždy prednosť.