Virallinen tiivistelmä · English
Mitä hankitaan?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Lähde ja luotettavuus
Lähde: virallinen TED-ilmoitus 502702-2026, tarkistettu viimeksi 21.8.2026 klo 15.05. Alkuperäinen julkaisu on edelleen ratkaiseva.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.