Officiell sammanfattning · English
Vad upphandlas?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Källa och tillförlitlighet
Källa: officiellt TED-meddelande 502702-2026, senast kontrollerat 21 aug. 2026 15:05. Originalpubliceringen är fortsatt styrande.
Uppgifterna har strukturerats om för att bli lättare att läsa. Det officiella meddelandet och upphandlingsdokumenten gäller alltid.