Službeni sažetak · English
Što se nabavlja?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Izvor i pouzdanost
Izvor: službena TED obavijest 502702-2026, zadnji put provjerena 21. kol 2026. 15:05. Izvorna objava ostaje mjerodavna.
Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.