Ametlik kokkuvõte · English
Mida hangitakse?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Allikas ja usaldusväärsus
Allikas: ametlik TEDi teade 502702-2026, viimati kontrollitud 21. aug 2026 15:05. Määravaks jääb algne väljaanne.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.