Resumo oficial · English
O que está a ser adquirido?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Fonte e fiabilidade
Fonte: anúncio oficial do TED 502702-2026, verificado pela última vez em 21 de ago de 2026 15:05. A publicação original continua a ser a referência.
Os dados são reorganizados para facilitar a leitura. O anúncio oficial e os documentos do concurso prevalecem sempre.