Oficiālais kopsavilkums · English
Kas tiek iepirkts?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Avots un uzticamība
Avots: oficiālais TED paziņojums 502702-2026, pēdējā pārbaude 2026. gada 21. aug. 15:05. Noteicošā ir sākotnējā publikācija.
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.