Officielt resumé · English
Hvad indkøbes?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Kilde og pålidelighed
Kilde: officiel TED-meddelelse 502702-2026, senest kontrolleret 21. aug. 2026 15.05. Den oprindelige offentliggørelse er fortsat gældende.
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.