Официално резюме · English
Какво се възлага?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Източник и надеждност
Източник: официално обявление в TED 502702-2026, последно проверено на 21.08.2026 г., 15:05 ч.. Оригиналната публикация остава меродавна.
Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.