Sommarju uffiċjali · English
X’qed jiġi akkwistat?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Sors u affidabbiltà
Sors: avviż uffiċjali tat-TED 502702-2026, iċċekkjat l-aħħar fil-21 Aww 2026 15:05. Il-pubblikazzjoni oriġinali tibqa’ awtorevoli.
Id-data hija ristrutturata biex tinqara aktar faċilment. L-avviż uffiċjali u d-dokumenti tal-akkwist dejjem jipprevalu.