Oficiali santrauka · English
Kas perkama?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Šaltinis ir patikimumas
Šaltinis: oficialus TED skelbimas 502702-2026, paskutinį kartą tikrinta 2026-08-21 15:05. Pirminė publikacija išlieka lemiama.
Duomenys pertvarkyti, kad būtų lengviau skaityti. Oficialus skelbimas ir pirkimo dokumentai visada turi pirmenybę.