Oficiální shrnutí · English
Co je předmětem zakázky?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Zdroj a spolehlivost
Zdroj: oficiální oznámení TED 502702-2026, naposledy ověřeno 21. 8. 2026 15:05. Rozhodující zůstává původní zveřejnění.
Data jsou upravena pro snazší čtení. Oficiální oznámení a zadávací dokumentace mají vždy přednost.