Offizielle Zusammenfassung · English
Was wird beschafft?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Quelle und Verlässlichkeit
Quelle: amtliche TED-Bekanntmachung 502702-2026, zuletzt geprüft am 21.08.2026, 15:05. Maßgeblich bleibt die Originalveröffentlichung.
Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.