Officiële samenvatting · English
Wat wordt ingekocht?
Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
Bron en betrouwbaarheid
Bron: officiële TED-aankondiging 502702-2026, laatst gecontroleerd op 21 aug. 2026 15:05. De oorspronkelijke publicatie blijft gezaghebbend.
De gegevens zijn voor een betere leesbaarheid geordend. De officiële aankondiging en aanbestedingsstukken zijn altijd doorslaggevend.