Oficiálne zhrnutie · English
Čo je predmetom obstarávania?
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Orientačný strojový preklad. Rozhodujúci zostáva oficiálny súhrn.
Oficiálne zhrnutie · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
História oznámení
Časová os verejného obstarávania
Sledujte hlavné etapy a aktualizácie súvisiace s týmto postupom verejného obstarávania.
-
Oznámenie o verejnom obstarávaní Prezerané oznámenie
· TED 271168-2026
Otvoriť oficiálne oznámenie ↗ -
Oznámenie o výsledku
· TED 690678-2026
Zobraziť oznámenie na Tenderiva
Otvoriť oficiálne oznámenie ↗
Údaje sú upravené na ľahšie čítanie. Oficiálne oznámenie a súťažné podklady majú vždy prednosť.
Zdroj a spoľahlivosť
TED · 271168-2026. Overené 21. 8. 2026, 22:05.
Údaje sú upravené na ľahšie čítanie. Oficiálne oznámenie a súťažné podklady majú vždy prednosť.