Officiell sammanfattning · English
Vad upphandlas?
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Vägledande maskinöversättning. Den officiella sammanfattningen gäller.
Officiell sammanfattning · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Meddelandehistorik
Tidslinje för upphandlingsförfarandet
Följ de viktigaste stegen och uppdateringarna som är kopplade till det här upphandlingsförfarandet.
Uppgifterna har strukturerats om för att bli lättare att läsa. Det officiella meddelandet och upphandlingsdokumenten gäller alltid.
Källa och tillförlitlighet
TED · 271168-2026. Kontrollerad 21 aug. 2026 22:05.
Uppgifterna har strukturerats om för att bli lättare att läsa. Det officiella meddelandet och upphandlingsdokumenten gäller alltid.