Επίσημη περίληψη · English
Τι αποτελεί αντικείμενο της σύμβασης;
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Ενδεικτική αυτόματη μετάφραση. Η επίσημη περίληψη παραμένει η έγκυρη αναφορά.
Επίσημη περίληψη · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Ιστορικό γνωστοποιήσεων
Χρονολόγιο διαδικασίας σύναψης σύμβασης
Παρακολουθήστε τα κύρια στάδια και τις ενημερώσεις που συνδέονται με αυτή τη διαδικασία σύναψης σύμβασης.
-
Γνωστοποίηση αποτελέσματος
· TED 690678-2026
Προβολή προκήρυξης στο Tenderiva
Άνοιγμα επίσημης προκήρυξης ↗
Τα δεδομένα έχουν αναδιαρθρωθεί για ευκολότερη ανάγνωση. Η επίσημη προκήρυξη και τα έγγραφα της σύμβασης υπερισχύουν πάντα.
Πηγή και αξιοπιστία
TED · 271168-2026. Ελέγχθηκε στις 21 Αυγ 2026, 10:05 μ.μ..
Τα δεδομένα έχουν αναδιαρθρωθεί για ευκολότερη ανάγνωση. Η επίσημη προκήρυξη και τα έγγραφα της σύμβασης υπερισχύουν πάντα.