Официално резюме · English
Какво се възлага?
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Машинен превод за ориентация. Официалното резюме остава меродавно.
Официално резюме · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
История на обявлението
Хронология на процедурата за възлагане
Проследете основните етапи и актуализации, свързани с тази процедура за възлагане.
-
Обявление за състезателна процедура Разглеждано обявление
· TED 271168-2026
Отворете официалното обявление ↗
Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.
Източник и надеждност
TED · 271168-2026. Проверено на 21.08.2026 г., 22:05 ч..
Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.