Amtliche Zusammenfassung · English
Was wird beschafft?
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Unverbindliche maschinelle Übersetzung. Die offizielle Zusammenfassung bleibt maßgeblich.
Amtliche Zusammenfassung · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Bekanntmachungsverlauf
Zeitlicher Ablauf des Vergabeverfahrens
Verfolgen Sie die wichtigsten Phasen und Aktualisierungen dieses Vergabeverfahrens.
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Bekanntmachung vergebener Aufträge
· TED 690678-2026
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Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.
Quelle und Verlässlichkeit
TED · 271168-2026. Geprüft am 21.08.2026, 22:05.
Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.