Sintesi ufficiale · English
Che cosa viene acquistato?
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Traduzione automatica indicativa. Il riepilogo ufficiale resta il riferimento.
Sintesi ufficiale · English
University College Cork request the supply of a Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis Spectrometer for non-destructive, trace-level wafer surface contamination analysis, with automated handling and rapid full-wafer mapping. The system must support routine monitoring on 100 mm and up to 200 mm wafers and be compatible with bare and processed wafers including thin films, epitaxial layers, and compound semiconductor substrates. The Spectrometer must be suitable for in a research cleanroom environment, with robust software control, recipe management, and data export.
Cronologia dell’avviso
Cronologia della procedura di appalto
Segui le fasi principali e gli aggiornamenti relativi a questa procedura di appalto.
-
Avviso di aggiudicazione
· TED 690678-2026
Visualizza la scheda su Tenderiva
Apri l’avviso ufficiale ↗
I dati sono riorganizzati per agevolarne la lettura. L’avviso ufficiale e i documenti di gara prevalgono sempre.
Fonte e affidabilità
TED · 271168-2026. Verificato il 21 ago 2026, 22:05.
I dati sono riorganizzati per agevolarne la lettura. L’avviso ufficiale e i documenti di gara prevalgono sempre.