Amtliche Zusammenfassung
Was wird beschafft?
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
Vorbereitungscheckliste
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Prüfpunkte für die offiziellen Unterlagen. Dieser Leitfaden ist keine automatische Dokumentenanalyse.
- Vollständige Unterlagen und Änderungen lesen
- Teilnahmebedingungen und verlangte Nachweise prüfen
- Prüfen, ob eine Besichtigung oder Besprechung erforderlich ist
- Zuschlagskriterien und Gewichtung prüfen
- Verfügbare Mittel, Budget und Zeitplan prüfen
- Einreichungsverfahren und Frist bestätigen
TED · 631856-2026. Geprüft am 14.09.2026, 03:05.
https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/631856-2026
Bekanntmachungsverlauf
Zeitlicher Ablauf des Vergabeverfahrens
Verfolgen Sie die wichtigsten Phasen und Aktualisierungen dieses Vergabeverfahrens.
Bisher wurde keine weitere zugehörige Bekanntmachung ermittelt.
Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.
Quelle und Verlässlichkeit
TED · 631856-2026. Geprüft am 14.09.2026, 03:05.
Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.