Aberto TED · Fonte · Idioma: Deutsch

Alemanha · Equipamento de laboratório, ótico e de precisão

Título oficial · Deutsch

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Alemanha

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Prazo 13 de out de 2026 12:00 UTC+02:00
Valor estimadoNão indicado
Publicado14 de set de 2026
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vergabemarktplatz.brandenburg.de

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Resumo oficial · Deutsch

O que está a ser adquirido?

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Lista de preparação

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Verificações a realizar nos documentos oficiais. Este guia não é uma análise automática do processo.

  1. Ler todos os documentos e alterações
  2. Verificar as condições de participação e os documentos exigidos
  3. Verificar se é exigida uma visita ou reunião
  4. Analisar os critérios de adjudicação e a sua ponderação
  5. Verificar recursos, orçamento e calendário disponíveis
  6. Confirmar o procedimento e o prazo de apresentação

TED · 631856-2026. Verificado em 14 de set de 2026 04:05.
https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/631856-2026

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