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Germania · Apparecchiature di laboratorio, ottiche e di precisione

Titolo ufficiale · Deutsch

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Germania

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Scadenza 13 ott 2026 12:00 UTC+02:00
Valore stimatoNon indicato
Pubblicato14 set 2026
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Sintesi ufficiale · Deutsch

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Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

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  2. Verificare le condizioni di partecipazione e i documenti richiesti
  3. Verificare se è richiesto un sopralluogo o un incontro
  4. Esaminare i criteri di aggiudicazione e i relativi pesi
  5. Verificare risorse, budget e calendario disponibili
  6. Confermare la procedura e il termine di presentazione

TED · 631856-2026. Verificato il 14 set 2026, 06:05.
https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/631856-2026

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TED · 631856-2026. Verificato il 14 set 2026, 06:05.

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