Ametlik kokkuvõte · English
Mida hangitakse?
DTU Nanolab wishes to acquire a high ion density source reactive ion etcher for oxides and nitrides of silicon to become its new primary instrument for 150 mm wafer processing. Delivery is expected no later than Q3 2027. The Instrument will be installed in the DTU Nanolab cleanroom - a university facility providing a comprehensive suite of micro- and nanofabrication tools. It serves a diverse community of over 200 active users, ranging from novice students to experienced researchers, as well a high percentage of commercial clients. As an open access tool, the Instrument must support the full spectrum of etching of silicon-based dielectrics, from sub 100 nm nanostructures defined by electron beam lithography to depths of several tens of microns.…
Abistav masintõlge. Ametlik kokkuvõte jääb määravaks.
Ametlik kokkuvõte · English
DTU Nanolab wishes to acquire a high ion density source reactive ion etcher for oxides and nitrides of silicon to become its new primary instrument for 150 mm wafer processing. Delivery is expected no later than Q3 2027. The Instrument will be installed in the DTU Nanolab cleanroom - a university facility providing a comprehensive suite of micro- and nanofabrication tools. It serves a diverse community of over 200 active users, ranging from novice students to experienced researchers, as well a high percentage of commercial clients. As an open access tool, the Instrument must support the full spectrum of etching of silicon-based dielectrics, from sub 100 nm nanostructures defined by electron beam lithography to depths of several tens of microns.…
Tasuta
Saage selle valdkonna järgmised hanked
Saate kord nädalas e-kirja uute teadetega, mis vastavad teie tingimustele. Enne tasuta teavituse aktiveerimist kontrollige või muutke tingimusi.
Ettevalmistuse loend
Valmista minu pakkumus ette
Ametlikest dokumentidest kontrollitavad punktid. Juhend ei ole automaatne dokumendianalüüs.
- Loe kõiki dokumente ja muudatusi
- Kontrolli osalemistingimusi ja nõutud dokumente
- Kontrolli kas nõutakse külastust või koosolekut
- Vaata hindamiskriteeriume ja nende osakaale
- Kontrolli ressursse, eelarvet ja ajakava
- Kinnita esitamise kord ja tähtaeg
TED · 701524-2026. Kontrollitud 12. okt 2026 11:05.
https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/701524-2026
Analüüsi seda teadet tehisintellektiga
TI-analüüsid on saadaval Pro või Team paketiga.
Teadete ja PDF-ide analüüsid kasutavad sama kvooti.
Teate ajalugu
Hankemenetluse ajajoon
Jälgige selle hankemenetlusega seotud põhietappe ja uuendusi.
Ühtegi muud seotud teadet ei ole veel tuvastatud.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
Allikas ja usaldusväärsus
TED · 701524-2026. Kontrollitud 12. okt 2026 11:05.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.