Taani · Labori-, optika- ja täppisseadmed
Ametlik pealkiri · English
The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Ametlik teade ei sisalda selles keeles lühikirjeldust.
- Tähtaeg
- 16. nov 2026 07:00 UTC
- Eeldatav maksumus
- Teatamata