Danska · Laboratorijska, optična in precizna oprema
Uradni naslov · English
The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Uradno obvestilo ne vsebuje kratkega opisa v tem jeziku.
- Rok
- 16. nov. 2026 07:00 UTC
- Ocenjena vrednost
- Ni navedeno