Avatud
TED
DEU
Saksamaa · Labori-, optika- ja täppisseadmed
Ametlik pealkiri · Deutsch
Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Ametlik teade ei sisalda selles keeles lühikirjeldust.
- Tähtaeg
- 29. okt 2026 12:00 UTC+01:00
- Eeldatav maksumus
- Teatamata