Odprto
TED
DEU
Nemčija · Laboratorijska, optična in precizna oprema
Uradni naslov · Deutsch
Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Uradno obvestilo ne vsebuje kratkega opisa v tem jeziku.
- Rok
- 29. okt. 2026 12:00 UTC+01:00
- Ocenjena vrednost
- Ni navedeno