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Deutschland · Labor-, optische und Präzisionsgeräte
Amtlicher Titel · Deutsch
Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Die amtliche Bekanntmachung enthält in dieser Sprache keine kurze Beschreibung.
- Frist
- 29.10.2026 12:00 UTC+01:00
- Geschätzter Wert
- Nicht angegeben