Avatud TED · Allikas · Keel: Deutsch

Saksamaa · Labori-, optika- ja täppisseadmed

Ametlik pealkiri · Deutsch

Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers

IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Saksamaa

Vaata selle nimega teateid
Ametlik kokkuvõte · Deutsch

The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated…

Mida hangitakse?
Tähtaeg 29. okt 2026 12:00 UTC+01:00
Eeldatav maksumusTeatamata
Avaldatud29. sept 2026
Vaadake teadet Analüüsi seda teadet tehisintellektiga Kokkuvõte, nõuded ja tähtajad selle teate teabe põhjal. Hankedokumente ei loeta.
Ava dokumendid ja esita pakkumus ↗
vergabemarktplatz.brandenburg.de

Ostja platvorm võib nõuda registreerimist. Esita pakkumus sellel platvormil.

Ametlik kokkuvõte · Deutsch

Mida hangitakse?

The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.

Ettevalmistuse loend

Valmista minu pakkumus ette

Ametlikest dokumentidest kontrollitavad punktid. Juhend ei ole automaatne dokumendianalüüs.

  1. Loe kõiki dokumente ja muudatusi
  2. Kontrolli osalemistingimusi ja nõutud dokumente
  3. Kontrolli kas nõutakse külastust või koosolekut
  4. Vaata hindamiskriteeriume ja nende osakaale
  5. Kontrolli ressursse, eelarvet ja ajakava
  6. Kinnita esitamise kord ja tähtaeg

TED · 670077-2026. Kontrollitud 29. sept 2026 11:05.
https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/670077-2026

Logige sisse →
Analüüsige hankedokumente PDF-vormingus

Teadete ja PDF-ide analüüsid kasutavad sama kvooti.

Teate ajalugu

Hankemenetluse ajajoon

Jälgige selle hankemenetlusega seotud põhietappe ja uuendusi.

Ühtegi muud seotud teadet ei ole veel tuvastatud.

  1. Hanketeade Praegune teade

    · TED 670077-2026

    Avage ametlik teade ↗

Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.

Allikas ja usaldusväärsus

TED · 670077-2026. Kontrollitud 29. sept 2026 11:05.

Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.

Teata veast e-posti teel