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Result notice · TED 792044-2026 ·
Germany · Laboratory, optical and precision equipment
Official title · Deutsch
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Official title · Deutsch
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
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Friedrich-Schiller-Universität Jena · Germany
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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TED · 657948-2026. Checked on Sep 24, 2026, 11:05 AM.
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